Authors J. M. P. Yue, W. K. Chim, B. J. Cho, D. S. H. Chan, W. H. Qin, Y. B. Kim, S. A. Jang, and I. S. Yeo 
Journal/Conference IEEE Electron Device Lett 
Date Mar. 2000. 
volume vol. 21 
Number no. 3 
Page pp. 130-132 

J. M. P. Yue, W. K. Chim, B. J. Cho, D. S. H. Chan, W. H. Qin, Y. B. Kim, S. A. Jang, and I. S. Yeo, "Hot-carrier degradation mechanism in narrow- and wide- channel n-MOSFET's with recessed LOCOS isolation structure", IEEE Electron Device Lett., vol. 21, no. 3, pp. 130-132, Mar. 2000.