Authors B. J. Cho, P. F. Chong, E. F. Chor, M. S. Joo, and I. S. Yeo 
Journal/Conference J. Appl. Phys. 
Date Dec. 2000. 
volume vol. 88 
Number no. 11 
Page pp. 6731-6735 

B. J. Cho, P. F. Chong, E. F. Chor, M. S. Joo, and I. S. Yeo, "Electron-beam irradiation-induced gate oxide degradation", J. Appl. Phys., vol. 88, no. 11, pp. 6731-6735, Dec. 2000.