Authors W. Y. Loh, B. J. Cho, M. S. Joo, M. F. Li, D. S. H. Chan, S. Mathew, and D. L. Kwong 
Journal/Conference IEEE Trans. Dev. Mat. Rel. 
Date Dec. 2004. 
volume vol. 4 
Number no. 4 
Page pp. 696-703 

W. Y. Loh, B. J. Cho, M. S. Joo, M. F. Li, D. S. H. Chan, S. Mathew, and D. L. Kwong, "Charge Trapping and Breakdown Mechanism in HfAlO/TaN Gate Stack Analyzed using Carrier Separation," IEEE Trans. Dev. Mat. Rel., vol. 4, no. 4, pp. 696-703, Dec. 2004.