Authors J. K. Park, Y. M. Park, S. H. Lee, S. K. Lim, J. S. Oh, M. S. Joo, K. Hong, and B. J. Cho 
Journal/Conference Jpn. J. Appl. Phys. 
Date Apr. 2011. 
volume vol. 50 
Number no. 4 
Page pp. 04DD07-5 

J. K. Park, Y. M. Park, S. H. Lee, S. K. Lim, J. S. Oh, M. S. Joo, K. Hong, and B. J. Cho, "Mechanism of Date Retention Improvement by High Temperature Annealing of Al2O3 Blocking Layer in Flash Memory Device", Jpn. J. Appl. Phys., vol. 50, no. 4, pp. 04DD07-1-04DD07-5, Apr. 2011.